Hirayama Seisakusho Co., Ltd. präsentiert auf der NEPCON JAPAN 2024 das Hochgeschwindigkeits-Lebensdauertestgerät HAST System. Dieses Gerät wird verwendet, um die Feuchtigkeitsbeständigkeit von Halbleiterkomponenten zu bewerten. Durch Verwendung eines Druckbehälters wird die Testzeit erheblich verkürzt und die Bewertung durchgeführt. Das Ziel dieses Geräts ist es, die Testzeit von 10 Jahren auf einige Hundert Stunden in dieser Umgebung zu verkürzen. Das Gerät verfügt über einen Touchscreen zur Einstellung der Temperatur und Testbedingungen. Die Tür kann per Knopfdruck automatisch geöffnet und geschlossen werden. Ein beeindruckendes Produkt für die Lebensdauerbewertung von elektronischen Bauteilen.Generated by OpenAI

Webseite:https://www.hirayama-hmc.co.jp/top.html